Richard Schielein

Lehrstuhl für Kristallografie und Strukturphysik
Staudtstr. 3
D-91058 Erlangen

Raum 1.022

Tel.: +49 9131 85-25187
Fax: +49 9131 85-25182

Masterstudent

Dynamische Beugung an Galliumarsenid im Hinblick auf ein Neutronenrückstreupektrometer

Mit Beugung in Rückstreugeometrie lässt sich die höchste Energieauflösung bei Kristallspektrometern erzielen. Herzstück ist dabei ein großflächiges Array von Monochromator- und Analysatorplatten aus perfekten Siliziumkristallen (~10 m2). Wir konnten vor kurzem zeigen, dass sich bei einer Verwendung von GaAs-Kristallen die Energieauflösung um etwa eine Zehnerpotenz verbessern lässt.

Gemeinsam mit dem Institut Laue-Langevin, Grenoble, Frankreich, dem weltweit bedeutendsten Zentrum der Forschung mit Neutronenstrahlen, und eingebettet in eine größere internationale Zusammenarbeit wollen wir erstmalig ein Rückstreuspektrometer auf Basis von GaAs realisieren.